关于光切显微镜的定度

• 作者: 钱关名
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 定度 C值 格值 RZ值
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 11-11
• 页数: 1页
• 分类号: TH74
• 字数: 783字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6941.2002.05.006

摘要

光切显微镜以光切原理为基础,能解决工件表面微小峰谷深度的测量问题,是测量表面粗糙度的专用仪器之一.光切显微镜一般测量RZ值大于0.8μm的工件.本文主要解决在使用光切显微镜时,首先要解决的问题一定度难的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钱关名	嘉兴市计量检定测试所长度室	1	0	0.0	0.0