荧光粉表面吸附汞的检测

• 作者: 刘兰花 徐燕 王惠琴 胡建国 马林
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 汞 冷原子吸收法 荧光粉 光衰
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 409-412
• 页数: 4页
• 分类号: O482.31
• 字数: 2233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-7032.2002.04.022

摘要

在荧光灯的燃点过程中,荧光粉表面沉积吸附的汞对光衰有重要的影响.本文提出用冷原子吸收方法(CVAAS)直接检测荧光粉表面吸附汞量的变化,利用室温下原子汞对254nm共振线的吸收,且其吸收与汞原子蒸气浓度成正比进行汞量测定.测得方法的标准曲线回归方程为Y=0.4455X+0.2000,试样的加标回收率为92.3～99.8%,满足荧光粉含汞量测定的要求.对燃点不同时间后的铝酸盐蓝色荧光粉(BAM)进行测定,结果表明:荧光粉表面沉积吸附的汞量随点灯时间的延长而增加,与灯的光衰增大趋向一致,汞的吸附沉积确实是造成荧光灯光衰的主要原因之一.检测结果还表明:将未作表面包膜处理的BAM粉与经过表面包覆纳米Al2O3膜层处理的BAM粉作对照,前者的含汞量比后者的含汞量明显要高,可见:对荧光粉进行表面包膜处理,能够保护粉体、减少汞的沉积吸附,从而降低点灯过程中的光衰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马林	复旦大学化学系	13	131	7.0	11.0
2	胡建国	复旦大学化学系	10	150	7.0	10.0
3	王惠琴	复旦大学化学系	6	102	5.0	6.0
4	徐燕	复旦大学化学系	18	194	8.0	13.0
5	刘兰花	复旦大学化学系	1	5	1.0	1.0