面心立方多晶薄膜中应变能密度对晶粒取向的依赖

• 作者: 张建民 徐可为
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 应变能密度 晶粒生长
• 年，卷（期）: 2002,（11）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：结构、热学和力学性质
• 页码范围: 2562-2566
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3724字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2002.11.028

摘要

对附着在基体上面心立方多晶薄膜中不同取向晶粒的应变能密度进行了计算.结果表明:在屈服之前,5个最小的应变能密度对应的晶粒取向依次为(100),(510),(410),(511)和(310);在屈服膜中,5个最小的应变能密度对应的晶粒取向依次为(110),(100),(511),(411)和(211).仅考虑应变能,这些取向的晶粒将依次优先生长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐可为	西安交通大学金属材料强度国家重点实验室	238	3333	30.0	44.0
2	张建民	陕西师范大学物理学与信息技术学院	49	376	13.0	15.0