纵向评测SiS 645公板评测最先支持DDR333内存的P4芯片组

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刘建云

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篇名	纵向评测SiS 645公板评测最先支持DDR333内存的P4芯片组
来源期刊	电子测试	学科	工学
关键词
年，卷（期）	2002,（1）	所属期刊栏目	OEM产品与技术
研究方向		页码范围	52-54
页数	3页	分类号	TN3
字数	1922字	语种	中文
DOI	10.3969/j.issn.1000-8519.2002.01.021