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摘要:
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低功耗绝热SRAM
绝热电路
低功耗
SRAM
VLSI设计
嵌入式双端口SRAM可编程内建自测试结构的设计
内建自测试
双端口SRAM测试
March算法
可编程
SOI SRAM测试研究
绝缘体上硅(SOI)
部分耗尽(PD)
静态存储器
故障模型
测试码
离子径迹结构对SRAM单粒子翻转截面的影响
单粒子翻转
离子径迹
电荷收集
扩散
电荷共享
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 SRAM新结构
来源期刊 电子与封装 学科
关键词
年,卷(期) 2002,(2) 所属期刊栏目 信息报道
研究方向 页码范围 33
页数 1页 分类号
字数 语种 中文
DOI
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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