VLSI测试中移相伪随机序列的设计

• 作者: 刘勇
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 线性反馈移位寄存器 移相器 m序列 移位可加性 伪随机测试
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 608-611
• 页数: 4页
• 分类号: TP331
• 字数: 2054字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2002.06.012

摘要

为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法.该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFSR生成序列的互相关性,利用LFSR与其对偶LFSR间的关系,提出了基于逻辑仿真的移相器的快速设计方法,实验结果验证了该方法的有效性,对VLSI的内测试和外测试皆适用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘勇	成都电子机械高等专科学校计算机工程系	2	3	1.0	1.0