测试封装应力用压阻式应变计阵列

• 作者: 唐祯安 姜勇
• 来源期刊: 传感器技术
• 学科: 工学
• 关键词: 压阻式应变计 封装应力 集成电路 阵列
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TH379|TH823
• 字数: 1980字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-9787.2002.02.002

摘要

集成电路封装应力是影响芯片生产的成品率和可靠性的关键因素.针对目前广泛采用的PQFP封装模式,介绍了利用压阻式应变计阵列测试集成电路封装应力的原理、应变计的制造及标定方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐祯安	大连理工大学电子工程系	142	1281	17.0	29.0
2	姜勇	大连理工大学电子工程系	20	68	5.0	7.0