双口RAM在嵌入式系统调试中的应用

• 作者: 王广炎 赵建东 陈恳
• 来源期刊: 电子产品世界
• 学科: 工学
• 关键词: 双口RAM 嵌入式 系统调试
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 测试测量与工业自动化
• 页码范围: 62-63
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 1237字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2002.01.027

摘要

本文结合双口RAM特点,介绍了它在嵌入式PLC系统软硬件调试中的应用,总结了双口RAM在嵌入式系统设计和调试中简捷高效的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈恳	清华大学精仪系	184	3027	30.0	46.0
2	王广炎	西北工业大学十系	6	54	6.0	6.0
3	赵建东	清华大学精仪系	12	289	8.0	12.0