高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

• 作者: 张平 徐建昌 李雪辉 王乐夫
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 磷酸硅铝分子筛 羟基,漫反射红外光谱 高温光谱 分子探针
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 1096-1098
• 页数: 3页
• 分类号: O6
• 字数: 2160字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2002.09.020

摘要

采用高温漫反射红外光谱法研究分子筛羟基, 考察了温度、加热时间对高温光谱的影响.该方法结合NH3和C5H5N分子探针在298～823K对磷酸硅铝分子筛SAPO-34中的羟基进行了表征.结果表明, 3612 cm-1和3597 cm-1吸收峰表征的羟基位于SAPO-34分子筛的晶格中, 归属于两种桥联羟基(Si-OH-Al).两种羟基均具有酸性, 在823K时仍然稳定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张平	华南理工大学化工系	75	1011	17.0	29.0
3	王乐夫	华南理工大学化工系	142	1675	22.0	30.0
4	李雪辉	华南理工大学化工系	98	1049	15.0	25.0
5	徐建昌	华南理工大学化工系	23	265	11.0	16.0