作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
本文主要介绍了一种新型的CSP高级封装--晶圆片级芯片规模封装技术(WLCSP)及其特点,并简述了CSP封装的主要特点及发展前景.
推荐文章
超薄型圆片级芯片尺寸封装技术
苯丙环丁烯
凸点技术
CSP
光学封装
可靠性
圆片级CSP
圆片级封装技术——超CSPTM
芯片级封装
CSP
超CSPTM
圆片级封装
WLCSP封装中基于电镀工艺对铜锡之间Kirkendall空洞的抑制研究
WLCSP
Kirkendall空洞
电镀
抑制
电流密度
整平剂
晶圆尺寸级封装器件的热应力及翘曲变形
晶圆尺寸级封装
热应力
翘曲变形
器件结构尺寸
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 晶圆片级芯片规模封装技术(WLCSP)
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 芯片规模封装 晶圆片级芯片规模封装 发展前景
年,卷(期) 2002,(2) 所属期刊栏目 封装、组装、测试
研究方向 页码范围 30-33
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 2078字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2002.02.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨建生 8 17 3.0 4.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (5)
参考文献  (2)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (2)
二级引证文献  (10)
1998(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2000(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2002(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2012(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
2014(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2015(5)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(5)
2017(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2018(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2019(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
芯片规模封装
晶圆片级芯片规模封装
发展前景
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导