三维残余应力及深度分布的X射线分析和计算

• 作者: 周上祺 陈玉安 韩宪兵
• 来源期刊: 重庆大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: X射线应力分析 残余应力 X射线衍射 X射线积分法
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 41-43
• 页数: 4页
• 分类号: TG115
• 字数: 2800字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-582X.2002.01.011

摘要

针对X射线法在测定铍等轻元素材料内部残余应力及其深度分布时的不足,研究了一种分析和计算轻元素材料内部全三维残余应力及其深度分布的新方法,提出了包括考虑平衡条件和表面边界条件的基于线弹性理论的一种模型方程,对分析和计算原理、实验装置和实验作了介绍,编制出相应的计算机数据处理程序,能够对轻元素材料表面及内部任何一点进行全三维残余应力分析和计算.文中最后用铍的实验数据对程序进行了验证,结果表明,正应力分量σ11、σ22随深度的变化较大,而切应力分量σ12、σ13和σ23及正应力分量σ33均很小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周上祺	重庆大学材料科学与工程学院	85	912	16.0	27.0
2	陈玉安	重庆大学材料科学与工程学院	33	431	10.0	20.0
3	韩宪兵	重庆大学材料科学与工程学院	1	13	1.0	1.0