汝瓷成分的线扫描分析

• 作者: 何伟 冯敏 孙新民 朱剑 杨益民 毛振伟 王昌燧 郭木森 黄宇营
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 历史
• 关键词: SRXRF 汝瓷 线扫描分析 中间层
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 页码范围: 853-858
• 页数: 6页
• 分类号: K854.2
• 字数: 2378字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2002.10.018

摘要

用SRXRF技术对汝瓷断面从釉到胎进行了十一种元素含量的线扫描分析,结果表明:在汝瓷胎、釉之间的确存在一个元素含量与两者相差很大的中间层.我们认为这是汝瓷在烧制过程中,瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的,这个中间层在实体光学显微镜上能明显看出而在偏光显微镜和扫描电镜下看不到.此工作不仅有助于研究汝瓷的结构和烧造工艺,也将有利于SRXRF无损分析技术在考古领域的运用.