表面弯曲的古陶瓷样品X射线荧光无损定量分析

• 作者: 何文权 熊樱菲
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: XRF 古陶瓷 无损分析 基本参数法
• 年，卷（期）: 2002,（7）
• 页码范围: 581-586
• 页数: 6页
• 分类号: O571.33
• 字数: 4157字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2002.07.023

摘要

常规X荧光分析中对样品表面有较高要求,这大大影响了利用X射线荧光法对古陶瓷无损分析的进行.本文提出了基本参数法和经验系数法中的两种较为简单的处理方法,以满足对不同大小和弯曲形状样品分析的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊樱菲		22	161	8.0	12.0
2	何文权		8	107	5.0	8.0