共焦扫描荧光显微镜的信噪比与测量精度

• 作者: 杨晓春 胡茂海 陶纯堪 高万荣 黄琳
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 分辨率 信噪比 显微成像
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 光学仪器与设计
• 页码范围: 315-316
• 页数: 2页
• 分类号: TH742.65|TB96
• 字数: 1433字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2002.04.014

摘要

激光扫描共焦显微术和多光子显微术等新的显微成像技术可以对厚的生物样品实现光学断层成像,因而在生物医学诊断领域具有重要的应用前境.在Fried的一维分辨度理论的基础上,系统地讨论了运用共焦扫描荧光显微术在进行光学断层成像时,其光学断层平面分辨度与信噪比之间的定量关系,建立了实际显微成像系统平面测量精度的定量计算方法.所得出的结果对于选择共焦扫描显微成像系统的最佳参数及评价所设计的显微成像系统的性能具有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陶纯堪	南京理工大学电光学院	60	469	12.0	17.0
2	高万荣	南京理工大学电光学院	61	215	7.0	12.0
3	杨晓春	南京理工大学电光学院	14	67	5.0	7.0
4	黄琳	南京理工大学电光学院	14	65	5.0	7.0
5	胡茂海	南京理工大学电光学院	24	163	8.0	11.0