智能电路板测试研究

• 作者: 刘晓滨 吴国庆 李文生
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 智能电路板 单片机 故障诊断
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 信息安全
• 页码范围: 22-23,26
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2002.10.009

摘要

首先综合论述了可用于智能电路板的仿真测试技术,然后介绍了一种适于智能电路板的故障诊断系统,经过对电子装备带微处理器的电路板的实际运用,表明该系统能够实现对电子装备智能电路板的故障诊断.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴国庆		6	19	3.0	4.0
2	李文生		1	5	1.0	1.0
3	刘晓滨		1	5	1.0	1.0