一种实用的集成芯片测试仪的设计

• 作者: 刘庆江 张晓光
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 集成芯片测试仪 单片机 测试接口
• 年，卷（期）: 2002,（12）
• 所属期刊栏目: 测控技术与设备
• 页码范围: 36-37,40
• 页数: 3页
• 分类号: TM93
• 字数: 2164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2002.12.013

摘要

介绍了采用AT89C52单片机设计的集成芯片测试仪的工作原理及硬软件设计.该系统具有满意的性能和良好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张晓光	中国矿业大学信息与电气工程学院	174	1037	16.0	24.0
2	刘庆江	中国矿业大学信息与电气工程学院	2	15	2.0	2.0