一种数字电路的测试向量生成算法

• 作者: 何华锋 张伟 胡昌华 许化龙
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 测试向量 故障字典 测试生成算法
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 软件、算法与仿真
• 页码范围: 95-98
• 页数: 4页
• 分类号: TN707
• 字数: 2994字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2002.06.028

摘要

结合一个实际电路,研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法.该算法首先划分电路功能块,然后基于功能测试的思想,通过功能块测试向量的迭代生成整个电路的测试向量.还提出了一种基于器件布尔函数建立故障字典的方法,这种方法思路清楚,软件编程实现方便.