非均匀填充束团纵向不稳定性的模拟计算

• 作者: 戴建枰 赵振堂
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非均匀填充束团 不稳定性 ZAP程序
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 页码范围: 167-172
• 页数: 6页
• 分类号: TL501
• 字数: 3377字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2002.03.002

摘要

为精确计算储存环中高频腔等高Q值元件引起的耦合束不稳定的增长率,我们通过分析束团和高频腔高次模的相互作用,编制了能计算非均匀填充束团纵向不稳定性增长率的程序--SLIAB程序.在束团均匀分布这种特例情况下,该程序与常用的ZAP程序计算得到的结果基本一致.作为一个应用实例,本文给出了高能物理研究所BEPC改进方案BEPC-Ⅱ上束腔耦合不稳定性的增长率的计算结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴建枰	中国科学院高能物理研究所	21	43	3.0	5.0
2	赵振堂	中国科学院高能物理研究所	36	191	8.0	13.0