烧结时间对YBa2Cu3O7-δ超导体的正交结构及正电子寿命参数的影响

• 作者: 张金仓 李喜贵 陈镇平
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: YBa2Cu3O7-δ超导体 正电子寿命参数 晶体结构 缺陷浓度
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 页码范围: 471-475
• 页数: 5页
• 分类号: O572.11|TM26
• 字数: 2974字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2002.06.014

摘要

报告了利用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)和正电子湮没等实验对YBa2Cu3O7-δ(Y-123)体系正交畸变度和正电子寿命谱随烧结时间变化的研究结果.发现在950℃温度的烧结条件下,在12-72h这一相当宽的烧结时间范围内,正电子实验具有足够的稳定性和可靠性,实验表明足够的烧结时间在Y-123多晶材料制备方面是必须的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张金仓		93	237	8.0	11.0
2	李喜贵		41	196	8.0	11.0
3	陈镇平		55	139	6.0	8.0