成像偏振测量技术及其应用

• 作者: 施志华
• 来源期刊: 红外
• 关键词: 偏振计 偏振测量 斯托克斯参数 成像偏振计
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 字数: 3559字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-8785.2002.04.001

摘要

成像偏振仪是利用了现有的辐射成像技术和偏振测量技术的原理,加以技术上改进,获得待测目标的偏振参数(偏振度、偏振方位角和偏振椭率等)的灰度图的仪器,具有准确度高、信息量丰富的优点.近两年,国外对成像偏振技术(尤其是全偏振态的成像技术)的研究非常重视.成像偏振测量技术把信息量从三维(光强、光谱以及空间)扩充到七维(光强、光谱、空间、偏振度、偏振方位角以及偏振椭率),能同时得到直观的各偏振参数灰度图和各观测点的详细偏振数据信息.另外,成像偏振技术在军事上也有其特殊的用途(尤其是椭圆偏振态的测量).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施志华	中国科学院上海技术物理研究所	3	85	3.0	3.0