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透明导电薄膜最佳掺杂含量的理论计算
透明导电薄膜最佳掺杂含量的理论计算
作者:
范志新
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
透明导电薄膜
晶体结构
制备方法
最佳掺杂含量
摘要:
分析了几种氧化物半导体透明导电薄膜材料的掺杂改性的实验结果,建立了薄膜材料的某一物理性能与晶体结构、制备方法和掺杂剂含量之间的联系,并给出了一个能够拟合实验曲线的抛物线方程.该方程的极值点确定了最佳掺杂含量与晶体结构和制备方法之间的定量关系,进而导出了一个最佳掺杂含量表达式.应用此表达式定量计算了铝掺杂氧化锌薄膜、锡掺杂氧化铟薄膜、锑掺杂二氧化锡薄膜等氧化物半导体透明导电薄膜材料最佳掺杂剂在不同制备方法下的最佳掺杂量.结果表明定量计算的结果与部分实验数据相符合.
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篇名
透明导电薄膜最佳掺杂含量的理论计算
来源期刊
半导体学报
学科
工学
关键词
透明导电薄膜
晶体结构
制备方法
最佳掺杂含量
年,卷(期)
2002,(6)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
589-592
页数
4页
分类号
O484|TN304
字数
3986字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2002.06.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
范志新
河北工业大学应用物理系
80
693
13.0
23.0
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半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
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