逻辑分析仪在嵌入式软件调试中的应用

• 作者: 陈文刚
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 逻辑分析仪 嵌入式软件 崩溃
• 年，卷（期）: 2002,（z1）
• 所属期刊栏目: 仪表与传感器
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TP393
• 字数: 2706字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2002.z1.015

摘要

介绍了一种利用逻辑分析仪迅速、准确地定位嵌入式软件在调试过程中崩溃地址的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈文刚		3	5	1.0	2.0