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IC测试系统精密定时器的新结构
IC测试系统精密定时器的新结构
作者:
施映
林雨
王东辉
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
IC测试
定时器
VLSI
摘要:
讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构.该结构将定时计数器分为高速和低速两部分,低速部分采用存储器代替分散的寄存器,既有利于集成,又降低了系统的成本.同时,新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名
IC测试系统精密定时器的新结构
来源期刊
半导体学报
学科
工学
关键词
IC测试
定时器
VLSI
年,卷(期)
2002,(11)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
1224-1227
页数
4页
分类号
TN407
字数
2470字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2002.11.019
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王东辉
中国科学院半导体研究所
63
370
10.0
17.0
2
林雨
中国科学院半导体研究所
4
5
1.0
2.0
3
施映
中国科学院半导体研究所
1
1
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IC测试
定时器
VLSI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
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