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摘要:
讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构.该结构将定时计数器分为高速和低速两部分,低速部分采用存储器代替分散的寄存器,既有利于集成,又降低了系统的成本.同时,新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题.
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文献信息
篇名 IC测试系统精密定时器的新结构
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 IC测试 定时器 VLSI
年,卷(期) 2002,(11) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1224-1227
页数 4页 分类号 TN407
字数 2470字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2002.11.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王东辉 中国科学院半导体研究所 63 370 10.0 17.0
2 林雨 中国科学院半导体研究所 4 5 1.0 2.0
3 施映 中国科学院半导体研究所 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
IC测试
定时器
VLSI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
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35317
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