AgInSbTe薄膜的短波长记录性能分析

• 作者: 干福熹 阮昊 陈仲裕 魏劲松
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: AgInSbTe薄膜 记录畴 记录性能
• 年，卷（期）: 2002,（11）
• 所属期刊栏目: 薄膜光学
• 页码范围: 1281-1285
• 页数: 5页
• 分类号: O484.4+1
• 字数: 2276字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2002.11.001

摘要

采用自制的装置研究了Ag5In5Sb47Te33薄膜的静态记录性能与记录激光的功率和脉冲宽度的关系,并对其记录畴形貌特点进行了直接观察.结果表明只有记录激光的功率和脉冲宽度在一定范围之内才能起到信息记录的作用,所得的记录畴形貌十分清晰,基本为非晶态Ag5In5Sb47Te33;小于该范围的激光能量不能使材料结构发生较大的变化,所得的记录畴形貌模糊,反射率对比度低于2%;大于该范围所得的记录畴由烧蚀区和其周围的非晶态Ag5In5Sb47Te33组成.另外,得到了记录激光功率为12 mW、脉冲宽度为90 ns的Ag5In5Sb47Te33薄膜的短波长最佳记录条件,其记录畴的反射率对比度为22%,直径为380 nm～400 nm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	干福熹	中国科学院上海光学精密机械研究所	288	2527	23.0	29.0
2	阮昊	中国科学院上海光学精密机械研究所	40	336	7.0	17.0
3	陈仲裕	中国科学院上海光学精密机械研究所	20	269	11.0	16.0
4	魏劲松	中国科学院上海光学精密机械研究所	12	61	3.0	7.0