集成电路测试业发展模式的探索与实践

• 作者: 张东
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 经济
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 设备与材料
• 页码范围: 40-41,45
• 页数: 3页
• 分类号: F4
• 字数: 3592字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2002.01.010

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东		25	124	5.0	10.0