ESD EMP对单片机的辐照效应实验及加固方法研究

• 作者: 侯民胜 王书平
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 静电放电 电磁脉冲 单片机系统 效应 加固
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 3000字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2002.01.018

摘要

为研究静电放电电磁脉冲对电子系统的影响,进行了静电放电电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验.实验表明,单片机系统在ESD EMP作用下,会出现"死机"、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象.在实验基础上,研究了对ESD EMP的加固方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王书平	军械工程学院静电与电磁防护研究所	31	133	7.0	10.0
2	侯民胜	军械工程学院静电与电磁防护研究所	11	67	5.0	8.0