数字调谐系统芯片DTSO614的可测性设计

• 作者: 居水荣 滕青
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 数字调谐系统 内建自测试
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 9-13
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3190字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2002.09.005

摘要

介绍了集成电路可测性设计的概念和分类方法,然后以数字调谐系统芯片DTS0614为例,具体介绍了其中的一种即针对性可测性设计方法,包括模块划分、增加控制线和观察点.最后给出了提高电路可测性的另一种方法--内建自测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	居水荣		1	1	1.0	1.0
2	滕青		1	1	1.0	1.0