真空断路器投切电容器组早期重击穿率的研究

• 作者: 李电
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 真空断路器 投切 电容器 重击穿
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与专题论述
• 页码范围: 22-23
• 页数: 2页
• 分类号: TM561.2
• 字数: 2747字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2002.09.010

摘要

从触头材料、真空度、加工工艺和机构动作等因素分析了35 kV真空断路器开合电容器组早期重击穿率高的原因.反复试验和针对性的技术改进,特别是用合成回路现场老炼有效地降低了真空灭弧室早期重击穿率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李电		13	137	7.0	11.0