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摘要:
将PC机中常用的数据库技术引入单片机中,实现一个监测数字电子实验的单片机系统,以对实验中每一步的接线、操作错误即时显示判断结果,使系统可适用于绝大部分数字电路实验.实现该系统的其它关键技术.
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文献信息
篇名 基于数据库技术的单片机自适应判断系统
来源期刊 微型机与应用 学科 工学
关键词 数据库 判错 数字实验 单片机 自适应判断
年,卷(期) 2002,(6) 所属期刊栏目 硬件纵横
研究方向 页码范围 17-19
页数 3页 分类号 TP3
字数 2611字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-7720.2002.06.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈柏成 广州大学信息与机电学院 9 14 2.0 3.0
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2006(1)
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研究主题发展历程
节点文献
数据库
判错
数字实验
单片机
自适应判断
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息技术与网络安全
月刊
2096-5133
10-1543/TP
大16开
北京市海淀区清华东路25号(北京927信箱)
82-417
1982
chi
出版文献量(篇)
10909
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33
总被引数(次)
35987
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