基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统

• 作者: 周战馨 缪栋
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: PCI总线 边界扫描 集成电路
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 76-77,80
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2002.02.003

摘要

采用现场可编程门阵列(FPGA)和PCI 9052目标接口芯片,实现了符合PCI总线规范和IEEE 1149.1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统,具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能,结构简单、速度快、工作可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	缪栋		59	382	9.0	17.0
2	周战馨		3	10	1.0	3.0