电子元器件综合参数测试仪的研制

• 作者: 邓孝祥
• 来源期刊: 煤矿机械
• 学科: 工学
• 关键词: 数字化 单片集成电路 精度高
• 年，卷（期）: 2002,（11）
• 所属期刊栏目: 产品·结构
• 页码范围: 54-55
• 页数: 2页
• 分类号: TM5
• 字数: 1148字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0794.2002.11.028

摘要

数字化测量技术是面向21世纪的一项高新科学技术,应用单片集成电路系统设计开发的新型综合测试仪,精度高、显示直观.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓孝祥		36	65	4.0	6.0