来自磁光阱中冷原子团的荧光干涉条纹及其应用

• 作者: 印建平 周蜀渝 王育竹 龙全
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 冷原子团 干涉条纹 密度分布
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 量子光学
• 页码范围: 41-44
• 页数: 4页
• 分类号: O431.2
• 字数: 1944字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2002.01.009

摘要

实验观察到来自磁光阱中冷原子团的荧光经真空系统窗口的平板玻璃反射产生的干涉条纹.理论分析表明从从荧光干涉条纹的强度分布中可获得关于俘获原子总数以及密度分布的信息.采用该方法实测了俘获原子总数,并模拟得到了不同密度分布时条纹的对比度变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	印建平	苏州大学物理系	7	119	3.0	7.0
2	王育竹	中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学实验室	51	222	8.0	13.0
3	周蜀渝	中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学实验室	9	62	4.0	7.0
4	龙全	中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学实验室	4	51	2.0	4.0