线阵CCD测量干涉条纹抽样问题的讨论

• 作者: 李瑞 董伟
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: CCD 干涉条纹 抽样定理
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 371-372
• 页数: 2页
• 分类号: O436.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2002.06.009

摘要

对利用线阵CCD测量干涉条纹中,由于CCD本身的分离性和象元的积分效应,以及干涉条纹(余弦信号)抽样的特殊性,深入讨论了"如何确定可测量条纹最大空间频率"、"象元积分效应对抽样的影响"和"象元相位匹配对条纹对比度的影响"等3个问题,结果对于利用线阵CCD测量干涉条纹具有一般性的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李瑞		5	168	4.0	5.0
2	董伟		2	4	1.0	2.0