基于80C196KB的高速A/D参数测试技术

• 作者: 李贵山 杨建平 陈瑞
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: A/D 线性度 直方图 测试
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 仿真与测试
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2002.02.016

摘要

探讨了一种以80C196KB为核心并利用直方图测试理论实现高速A/D转换器线性度参数的测试技术,为高速A/D转换器线性误差的测试与分析提供了一种有效的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈瑞		25	147	5.0	12.0
2	杨建平		31	243	7.0	15.0
3	李贵山		17	206	8.0	14.0