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测试技术的飞跃--边界扫描技术
测试技术的飞跃--边界扫描技术
作者:
蔚英辉
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
边界扫描
边界扫描寄存器
印刷电路板
测试存取口
摘要:
集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难,边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可 测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的调试.本 文将介绍边界扫描的原理,并对边界扫描技术的应用作一些讨论.
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篇名
测试技术的飞跃--边界扫描技术
来源期刊
电信技术
学科
工学
关键词
边界扫描
边界扫描寄存器
印刷电路板
测试存取口
年,卷(期)
2002,(2)
所属期刊栏目
测试
研究方向
页码范围
75-77
页数
3页
分类号
TN4
字数
3037字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-1247.2002.02.032
五维指标
作者信息
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姓名
单位
发文数
被引次数
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1
蔚英辉
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边界扫描
边界扫描寄存器
印刷电路板
测试存取口
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电信技术
主办单位:
人民邮电出版社
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-1247
CN:
11-2100/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市丰台区成寿路11号邮电大厦8层
邮发代号:
2-675
创刊时间:
1954
语种:
chi
出版文献量(篇)
7270
总下载数(次)
13
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