浮栅ROM器件x射线剂量增强效应实验研究

• 作者: 周辉 张义门 贺朝会 郭红霞 陈雨生 韩福斌
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: EEPROM x射线 剂量增强剂量效应 同步辐射
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:结构、热学和力学性质
• 页码范围: 2315-2319
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3176字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2002.10.028

摘要

给出了浮栅ROM器件在钴源和北京同步辐射装置(BSRF)3W1白光束线辐照的实验结果;比较了两种辐照的实验结果及其损伤异同性.通过实验在线测得位错误数随总剂量的变化,给出相同累积剂量时x射线辐照和γ射线辐照的总剂量效应损伤等效关系.获得了浮栅ROM器件x射线剂量增强因子.这些结果对器件抗x射线辐射加固技术研究有重要价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张义门	西安电子科技大学微电子所	129	835	15.0	21.0
2	周辉		84	938	16.0	26.0
3	郭红霞	西安电子科技大学微电子所	81	385	10.0	13.0
5	陈雨生		36	433	11.0	19.0
6	韩福斌		12	56	4.0	6.0
9	贺朝会		16	193	8.0	13.0