集成电路中冒险的检测和消除

• 作者: 余潇洋 刘国华 李晓维 闵应骅
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 跳变 冒险 带符号路径长度
• 年，卷（期）: 2002,（14）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 211-214
• 页数: 4页
• 分类号: TP331
• 字数: 5050字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2002.14.073

摘要

CM0S集成电路中的冒险现象会增大电路的功耗,所以对集成电路中冒险的检测和消除的研究十分重要.文章分别对集成电路中原始输入单跳变,和多跳变两种情况下产生的冒险现象进行了研究,提出了检测和消除冒险的方法文章的方法可以在非常短的时间内检测出电路中可能产生冒险的点,对于单个原始输入跳变的情况可以通过增加很少的电路开销来消除一部分冒险点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闵应骅	中国科学院计算技术研究所	46	481	12.0	20.0
2	刘国华	中国科学院计算技术研究所	110	5093	38.0	70.0
3	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
4	余潇洋	中国科学院计算技术研究所	1	5	1.0	1.0