黑腔靶辐射温度实验研究

• 作者: 丁永坤 孙可煦 崔延莉 张保汉 易荣清 江少恩 汤晓青 郑志坚 陈久森 黄天晅
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 激光等离子体 黑洞靶 辐射温度
• 年，卷（期）: 2002,（8）
• 所属期刊栏目: 流体、等离子体和放电
• 页码范围: 1750-1754
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3909字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2002.08.017

摘要

研究腔靶辐射温度与靶型及激光辐照条件的关系.实验利用神光-Ⅱ基频光,激光能量为3-5 kJ/8束,脉宽为0.6-0.9ns打Au腔靶.采用滤片-x射线二极管(XRD)阵列谱仪及平响应-x射线二极管(P-XRD)分别测量腔靶诊断口辐射软x射线强度谱及其角分布,给出了等效辐射温度为140-180eV.同时,利用多针孔时、空分辨成像技术,观测诊断口发射软x射线时空特性,实验现象表明两种诊断口(衬Be环与无Be环)在160-170eV辐射温度条件下,辐射烧蚀产生的等离子体云均对腔内发射x射线流形成一定程度的阻挡作用,数据处理结果,给出了相应条件下辐射温度推算中需要的等效诊断口面积修正因子,平均值为0.79,并用此数据对测量的软x射线强度谱进行修正,达到提高辐射温度测量精度的目的.