La2-xSrxCuO4单晶膜的热电势与电阻率

• 作者: 余旻 曹烈兆 李慧玲 李鹏程 杨宏顺 柴一晟 阮可青
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 输运性质 热电势
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 663-667
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3996字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2002.03.039

摘要

测量了高质量的单晶膜La2-xSrxCuO4(x=0.10,0.20,0.25)的电阻率和热电势.La1.9Sr0.1CuO4电阻率呈现S型行为,表明存在一个赝能隙,在赝能隙态可以用公式ρ=ρ0+βexp(-Δ/T)很好地拟合.热电势的测量表明,在超导转变前样品的残余热电势值非常小,这是膜的高质量引起的,三个样品在200K以上都出现一个宽峰,对其进行了一些理论模型分析,并与电子型超导体热电势结果作了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柴一晟	中国科学技术大学结构分析开放实验室物理系	7	3	1.0	1.0
2	杨宏顺	中国科学技术大学结构分析开放实验室物理系	14	9	1.0	2.0
3	李鹏程	中国科学技术大学结构分析开放实验室物理系	52	580	13.0	23.0
4	余旻	中国科学技术大学结构分析开放实验室物理系	3	1	1.0	1.0
5	阮可青	中国科学技术大学结构分析开放实验室物理系	17	16	1.0	3.0
6	李慧玲	中国科学技术大学结构分析开放实验室物理系	5	28	2.0	5.0