综合孔径微波辐射计二阶量化数字相关器研究

• 作者: 吴季 王飞鹏
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微波辐射计 干涉综合孔径 数字相关器
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 450-453
• 页数: 4页
• 分类号: TN931
• 字数: 3751字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2002.03.040

摘要

微波辐射计作为一种无源遥感器,在遥感技术领域有着巨大的应用前景.传统的微波辐射计的空间分辨率受到天线孔径的限制.综合孔径微波辐射计利用了干涉测量原理和复相关技术,是一种可以有效地提高空间分辨率的新型辐射计.本文针对综合孔径微波辐射计的数字相关器进行了深入研究,分析论证了二阶量化数字相关器的工作机理,并对采用该种相关器的系统的信噪比进行了分析.初步的试验验证结果证明了该方案的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王飞鹏	中科院空间科学与应用研究中心	1	7	1.0	1.0
2	吴季	中科院空间科学与应用研究中心	4	28	3.0	4.0