微分代数方法在静电电子透镜任意高阶像差分析中的应用

• 作者: 唐天同 姚振华 程敏
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 微分代数 静电电子透镜 像差分析
• 年，卷（期）: 2002,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1800-1803
• 页数: 4页
• 分类号: O463.1
• 字数: 3708字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2002.12.018

摘要

微分代数是计算机数值分析领域中的一个非常有效的方法,它以非标准分析理论为基础,可以实现任意高阶微分的准确计算.本文根据微分代数方法的基本原理,将其引入到静电电子透镜的任意阶像差分析的计算中.通过计算例子,可以看出微分代数方法的计算结果非常精确,精度仅受限于机器精度和算法误差.同时结合微分代数方法可以很方便地计算到任意高阶像差的特性,给出了所研究的透镜的全部五阶像差的分布图形.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程敏	西安交通大学电子与信息工程学院	16	97	4.0	9.0
2	唐天同	西安交通大学电子与信息工程学院	49	145	6.0	9.0
3	姚振华	西安交通大学电子与信息工程学院	17	118	6.0	10.0