单壁碳纳米管的场发射特性研究

• 作者: 侯士敏 刘惟敏 孙建平 张兆祥 张浩 施祖进 薛增泉 赵兴钰 顾镇南
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 单壁碳纳米管(SWCNTs) 场发射显微镜(FEM) 四极质谱
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 434-438
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 2020字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2002.02.044

摘要

利用场发射显微镜(FEM)和四极质谱计分别研究了经过热处理的单壁碳纳米管的场发射图像和热处理过程中样品脱附的残气质谱.当热处理温度达到1000℃左右时得到了单壁碳纳米管的场发射像,此像可能是顶端开口的单根(16,0)锯齿形单壁碳纳米管的具有原子可分辨的场发射图像.四极质谱分析结果表明,在此温度范围W针尖晶粒间隙中有O原子和C原子释放出来.它们对单壁碳纳米管顶端的修饰是我们能观察到这些碳纳米管场发射像的可能原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张兆祥	北京大学电子学系	26	156	7.0	11.0
2	薛增泉	北京大学电子学系	66	466	11.0	19.0
3	刘惟敏	北京大学电子学系	40	283	8.0	15.0
4	施祖进	北京大学化学与分子工程学院	27	590	8.0	24.0
5	张浩	北京大学电子学系	40	197	9.0	12.0
6	赵兴钰	北京大学电子学系	28	187	7.0	13.0
7	侯士敏	北京大学电子学系	42	265	8.0	15.0
8	顾镇南	北京大学化学与分子工程学院	47	888	11.0	29.0
9	孙建平	北京大学电子学系	12	59	4.0	7.0