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摘要:
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ATS(自动测试系统)中系统不确定度的处理
系统不确定度
自动测试系统
通用性设计
接口适配器
外军ATE/ATS技术的发展趋势
测试技术
自动测试设备
自动测试系统
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 ATS(自动测试系统)及ATE技术
来源期刊 电子产品世界 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2002,(5) 所属期刊栏目 测试仪器
研究方向 页码范围 30-32
页数 3页 分类号 TP27
字数 3001字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-5517.2002.05.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李行善 北京航空航天大学自动化学院 51 1697 21.0 41.0
2 于劲松 北京航空航天大学自动化学院 68 1241 19.0 34.0
传播情况
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电子产品世界
月刊
1005-5517
11-3374/TN
大16开
北京市复兴路15号138室
82-552
1993
chi
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