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摘要:
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基于SoC芯片测试结构的研究
SoC
测试外壳Wrapper
TAM
测试规划
SOC基于LFSR的混合模式测试
SOC
SOB
LFSR
混合模式测试
BIST
SoC中混合信号的测试
SoC
混合信号
扫描测试
内置自测试
SOC测试访问机制
SOC
IP核
测试访问机制
复用
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 对SOC高功能及低成本的测试重新定义Teradyne Tiger\最精确的系统级SOC芯片测试仪Schlumberger EXA3000\最经济有效的测试方案Agilent93000 SOC系统
来源期刊 电子测试 学科
关键词
年,卷(期) 2002,(10) 所属期刊栏目 电子产品
研究方向 页码范围 155
页数 1页 分类号
字数 1102字 语种 中文
DOI
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相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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