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摘要:
采用射频(RF)磁控反应溅射法制备出氮化硅薄膜.从红外吸收光谱可见,氮气参加了反应并生成Si-N键,薄膜中含有少量的Si-O键和Si-H键;薄膜的成分与制备过程中基片温度、射频功率等工艺参数密切相关,当基片温度升高到400℃时,薄膜中基本不再含Si-H键,氮化硅薄膜的纯度得到提高.
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文献信息
篇名 磁控反应溅射法低温制备氮化硅薄膜
来源期刊 汕头大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 氮化硅薄膜 射频磁控反应溅射 红外吸收光谱
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 35-39
页数 5页 分类号 O484
字数 2912字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-4217.2003.02.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 欧阳艳东 汕头大学物理系 52 293 10.0 13.0
2 邱春文 汕头大学物理系 5 53 3.0 5.0
3 陈雄文 汕头大学物理系 2 66 2.0 2.0
4 石旺舟 上海华东师范大学物理系 1 27 1.0 1.0
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节点文献
氮化硅薄膜
射频磁控反应溅射
红外吸收光谱
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
汕头大学学报(自然科学版)
季刊
1001-4217
44-1059/N
16开
广东省汕头市大学路243号
46-17
1986
chi
出版文献量(篇)
992
总下载数(次)
3
总被引数(次)
3796
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