一种计算机层析成像用X光高分辨探测器技术

• 作者: 于渝 周密 潘英俊 米德伶 陈伟民 魏彪
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: X射线探测器 计算机层析成像 面阵CCD 工业X-CT
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TB853.21
• 字数: 2341字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2003.05.014

摘要

探测器技术是计算机层析成像系统的关键技术之一.提出了一种基于面阵CCD器件,采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输的扇形束线阵扫描X射线新型探测器技术.实验结果表明,该新型探测器具有结构紧凑、性能可靠且分辨力高(约50μm)等特点,可以实际应用于工业X-CT系统之中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟民	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	311	4748	37.0	51.0
2	潘英俊	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	125	927	14.0	21.0
3	魏彪	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	111	658	12.0	19.0
4	米德伶	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	53	365	11.0	15.0
5	周密	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	13	106	4.0	10.0
6	于渝		1	7	1.0	1.0