熔态GeO2结构的XAFS研究

• 作者: 吴忠华 李晨曦 牛小娟 陆坤权
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: XAFS 吸收谱 液态结构 GeO2 熔态
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 729-731
• 页数: 3页
• 分类号: O434.19
• 字数: 1878字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2003.10.001

摘要

GeO2是光电领域内的重要材料,也是玻璃形成体基础材料之一.晶体GeO2有六方对称的石英结构(q-GeO2)和四面体对称的金红石结构(r-GeO2).前者是重要的压电和光学材料,后者是半导体Ge的良好封装材料.两种晶态GeO2的熔点不同:q-GeO2的熔点为1115℃,而r-GeO2的熔点为1086℃.本工作解决了高温氧化物熔体XAFS实验中的困难,尝试了高温熔体XAFS实验的一种新的实验方法,采集了两种晶体形态GeO2熔化后不同温度的XAFS谱,并对照晶体和非晶体的室温XAFS谱,探讨了不同结构状态的熔体不同温度下的结构及其关联,特别是两种熔点之间的熔体结构状态.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆坤权	中国科学院物理研究所	35	880	15.0	29.0
2	吴忠华	中国科学院高能物理研究所	34	146	8.0	10.0
3	李晨曦	中国科学院物理研究所	9	23	3.0	4.0
4	牛小娟	中国科学院物理研究所	4	50	3.0	4.0