掺钯硅快恢复二极管VF～TRR兼容性研究

• 作者: 廖勇明 杨仕钟 游志朴 陈振
• 来源期刊: 四川大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 掺钯 快恢复二极管 VF～TRR兼容性 反恢复时间 反向漏电流
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 74-76
• 页数: 3页
• 分类号: TN305.3|TN315.2
• 字数: 2415字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2003.01.018

摘要

作者研究了掺Pd硅快恢复二极管的VF～TRR兼容性,得到掺钯硅二极管的VF～TRR兼容性略优于掺铂、掺金二极管的结果;这一结果与目前广泛采用的Baliga理论的预测不相符合,作者对此进行了分析与讨论.根据实验结果,作者认为应用掺钯技术有望制造出性能优良的超快恢复二极管.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	游志朴	四川大学物理系	4	4	1.0	2.0
2	廖勇明	四川大学物理系	3	13	2.0	3.0
3	陈振	四川大学物理系	5	26	3.0	5.0
4	杨仕钟	四川大学物理系	1	0	0.0	0.0