光点与会聚测试系统的设备需求与配置

• 作者: Gerard van Veldhoven 李晓华 杨晓伟 王琦龙 陈福朝
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光点 会聚 配置 优化设计
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 53-56
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.3+2
• 字数: 3094字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2003.01.014

摘要

光点测试和会聚测试是验证CPT电子枪偏转线圈性能的重要手段之一.本文提出基于合理的测试方法、有效适当的测试设备,建立最佳的测试系统.针对光点测试和会聚测试系统中的各种设备,介绍它们的应用原理及应用效果,从而了解在测试CPT光点质量和会聚误差过程中测试系统的设计原理及设备配置原理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓华	东南大学电子工程系	61	215	7.0	11.0
2	王琦龙	东南大学电子工程系	22	143	7.0	10.0
3	杨晓伟	东南大学电子工程系	27	98	6.0	8.0
4	陈福朝	东南大学电子工程系	18	56	4.0	6.0