地质样品X射线荧光分析中的背景相关曲线及其应用

• 作者: 周伟 李冰 李迎春 詹秀春 郑妙子 陈永君
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 地质样品 X射线荧光光谱 背景曲线
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 161-164
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1822字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2003.03.001

摘要

采用粉末压片-X射线荧光法,测量了水系沉积物、土壤、岩石等国家一级标准物质.对用LiF(200)晶体在20.70°～48.00°衍射角(2θ)得到的X射线背景数据进行了研究.以30.97°和25.70°(2θ)为参考背景角度,进行了背景曲线的幂函数拟合,背景相对强度的拟合回代值与实测值的相对误差小于2.6%,多数小于1%.利用该拟合函数,可以计算出20.70°～48.00°内任意两个角度下的背景比值(背景系数).因此,实验中可以根据情况选取合适的公共背景角度,并用拟合函数计算各元素谱峰角度处的背景系数.可采用公共背景法的元素数为13个左右,适当延长公共背景点的测量时间,可以降低背景的统计涨落.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李冰		60	1762	26.0	40.0
2	李迎春		18	216	9.0	14.0
3	詹秀春		65	635	14.0	21.0
4	周伟		6	46	5.0	6.0
5	陈永君		13	148	7.0	12.0
6	郑妙子		7	80	4.0	7.0